Видеоэндоскопы, бороскопы, фиброскопы, оборудование для визуально-измерительного контроля
Профілометр SJ5730

Однократне сканування профілю та шорсткості

Функції:

Класифікація параметрів Параметри
Вимірювання шорсткості Оцінка контуру P (Оригінальний профіль), R (Профіль шорсткості поверхні), W (Хвилястість)
Оцінка шорсткості Ra, Rp, Rv, Rz, Rt, Rmax, Rq, Rsk, Rku, RSm, RPc, Rdq, Rdc, Rmr, параметри Motif, параметри RCore, параметри P, параметри W
Фільтр Фільтрація 2RC, фільтрація Гауса та фільтрація нульової фази
Довжина хвилі відсікання λs 0.008, 0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8 мм на вибір
λs 0,25, 0,8, 2,5, 8, 25 мкм на вибір, відповідає специфікаціям JJF 1099-2018, ISO 4288-1996, GBT 1031-2009
Помилка форми Вимірювання похибки форми асферичної поверхні, вимірювання похибки лінійної форми, вимірювання похибки форми дугової поверхні
Стандарти DIN EN ISO 4287:2010, ASME B46.1-2002, JIS B 0601:2013, GB/T 3505-2009, ISO 4287:1997, ISO 13565-2:1996, ISO 1302:2002
Вимірювання контуру Загальні інструменти Надає 76 інструментів, включаючи створення координат, інструменти для конструювання, допоміжні інструменти, анотації та геометричні допуски
Функція ЧПК Забезпечте режим вимірювання з ЧПК для вимірювання партії
Індивідуальне вимірювання Налаштуйте процес вимірювання відповідно до характеристик заготовки (наприклад, поверхня з отвором у центрі), уникайте непотрібної області вимірювання та виконуйте періодичне вимірювання
Спеціальний інструмент Вимірювання кулькового гвинта (виправлений кут спіралі), вимірювання різьби, висоти столика, глибини канавки, ширини канавки, площі, опуклості тощо

Застосування:

Pt & Ra доріжки кочення підшипника

Ra поверхні зуба шестерні

Ra лопаті двигуна

Ra і профіль форми

Профіль і шорсткість деталей автомобіля

Профіль і шорсткість заготовки

Особливості

  • Оцінка параметрів контуру та шорсткості одночасно після одноразового сканування.
  • Висока точність, висока стабільність і висока повторюваність.
  • Інтелектуальне управління та передова система аналізу програмного забезпечення.
  • Інтелектуальна система захисту під час сканування.
  • Гнучке ручне керування.
  • Великий діапазон виміру шорсткості в наномасштабі.
  • Вставний зонд, який легко замінити.
  • Надзвичайно мала сила вимірювання, для уникнення подряпин на поверхні.

Модель SJ5730-100 SJ5730-200
Вимірювання контуру Діапазон вимір-я 0~100 мм 0~100 мм 0~200 мм
0~300 мм 0~300 мм 0~500 мм
Z1 ±6 мм (опційно: ±12 мм)
Роздільна здатність 0.001 мкм
Точність Z1*1 ≤±(0.5+0.03 H) мкм (H, мм)
Pt*2 Pt ≤ 0.2 мкм
Стандартна куля*3 ≤±1 мкм (R≤10мм);
≤± (0.17+R/12) мкм (10<R≤200 мм)
Кут*4 ≤±1′
Швидкість переміщення Х 0~20 мм/с
Z 0~20 мм/с
Швидкість сканування 0.05 ~ 5 мм/с
X Прямолінійність*5 ≤0.2 мкм / 100 мм ≤0.35 мкм / 200 мм
Вимірювальне навантаження 0.5 мН, 0.75 мН, 1 мН, 2 мН, 3 мН (регульоване)
Вимірювання шорсткості Діапазон вимірювання Ra Ra0.012 мкм ~ Ra12.5 мкм
Точність*6 Ra0.012 мкм ~ Ra3.2 мкм: ≤±(3 нм+2.0%A), A(Ra) мкм
Ra3.201 мкм ~ Ra12.5 мкм: ≤±(3 нм+3.5%A), A(Ra) мкм
Повторюваність (1δ)*7 1δ ≤ 1 нм
Залишок вимірювання*8 Rq ≤ 3 нм
Параметри шорсткості Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, RSm, RPc, Rdq, Rdc, Rmr, Rmax, Rpm, tp, Htp, Pc, Rda, Ry, Sm, S, Rpc, RzJ;
Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo;
Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax;
Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc;
R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte;
Стандарти: GB/T 3505-2009, ISO 4287:1997, ISO13565-2:1996, ASME B46.1-2002, DIN EN ISO 4287:2010, JIS B 0601:2013, JIS B 0601-1994, JIS B 0601-1982, ISO 1302:2002.
Параметри асферичного вимірювання Параметри мікропрофілю: Pt, Pa, Fig;
Параметри нахилу: Smx, Smn;
Параметр кута горизонтальної осі: Tilt;
Параметри відстані між оптичною віссю та контуром: Xp, Xv, Xt;
Параметр середньоквадратичної шорсткості: RMS;
Параметри схилу: Slpe mx, Slpemx(x), Slperms;
Параметр помилки радіусу вершини: Radius Err
Фільтр Фільтрація 2RC, фільтрація Гауса та фільтрація нульової фази
Довжина вибірки 0.008, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8.0, 25 мм
Довжина оцінювання Автоматичний розрахунок
Габаритні розміри (Д*Ш*В) 600×350×890 мм 800×500×1080 мм
Вага 110 кг 180 кг

*1-Точність заснована на стандартному калібрувальному блоці вимірювання.
*2-Точність заснована на випробуванні Pt стандартної кульки діаметром менше 25 мм.
*3-Точність заснована на перевірці стандартної кулі Ф 50 мм з дугою, що перевищує 90 градусів.
*4-Точність заснована на вимірюванні кута багатокутної призми.
*5-Точність заснована на вимірюванні оптичної плоскості.
*6-Точність заснована на вимірюванні стандартного блоку шорсткості.
*7-Повторюваність базується на вимірюванні блоку шорсткості прямокутної хвилі 0,1-0,2 мкм і стандартного блоку висоти кроку.
*8-Точність базується на вимірюванні 1 нм рівня шорсткості блоку та оптичної плоскості.

З 2011 року «УКРІНТЕХ» успішно працює і розвивається в області контролю якості матеріалів та промислових виробів.

Контакти

ТОВ «ТД «УКРІНТЕХ»:
61036, м.Харків, вул.Ковтуна,
буд.50, корпус літ "А-5"

Електронна пошта:
Ця електронна адреса захищена від спам-ботів. Вам потрібно увімкнути JavaScript, щоб побачити її.

Телефон:
+38 (050) 499-09-89; +38 (067) 346-65-76
+38 (067) 560-89-39

Випробувальна лабораторія:
+38 (050) 499-09-04
Ця електронна адреса захищена від спам-ботів. Вам потрібно увімкнути JavaScript, щоб побачити її.

Компанія

Постачання
випробувального обладнання, устаткування для металографії, приладів НК та ін.

Сервісний центр
Ремонт, сервісне обслуговування і модернізація обладнання.

Випробувальна лабораторія

Свідоцтво про уповноваження №05757883-0052, чинне
до 08.12.2025р.