Отрезные станки, шлифовально-полировальные станки, запрессовочные станки, металлографически5е микроскопы, расходные материалы, для подготовки образцов, магнитные системы крепления полировальных тканей, шлифовальные диски, алмазные суспензии и пасты, программное обеспечение
Прямий металографічний мікроскоп Optika B-510MET

Металографічний мікроскоп Optika B-510MET виробництва компанії OPTIKA (Італія) призначений для дослідження непрозорих матеріалів у відбитому світлі: металів і сплавів, різноманітних покриттів (гальванічних, PVD, CVD), а також для виявлення мікротріщин і дефектів, аналізу структури зерна та фазових включень.

[Дана модель широко використовується в різних сферах:

  • металографічні лабораторії
  • машинобудівна галузь
  • навчальні лабораторії
  • науково-дослідні центри

Конструктивна схема та принцип роботи

Мікроскоп виконаний за прямою оптичною схемою: об’єктив розташований над зразком, зразок знаходиться на предметному столику, а освітлення здійснюється через об’єктив у відбитому світлі.

Переваги прямої оптичної системи

  • зручність роботи з тонкими та підготовленими шліфами
  • висока точність позиціонування
  • кращий контроль фокусування при великих збільшеннях

На відміну від інвертованих моделей, дана конструкція забезпечує вищу точність при роботі з мікрошліфами, хоча є менш зручною для дослідження великих зразків.

Методи дослідження

Мікроскоп підтримує основні методи металографічного аналізу: світле поле, поляризоване світло та косе освітлення у відбитому світлі.

Світле поле

Дозволяє досліджувати загальну мікроструктуру зразка, зерна та фази після травлення. Світло падає перпендикулярно на зразок і відбивається назад в об’єктив.

Поляризоване світло

Дає можливість виявляти залишкові напруження та анізотропні фази. Світло проходить через поляризатор, відбивається від зразка та проходить через аналізатор, формуючи контраст.

Косе освітлення

Застосовується для виявлення:

  • мікротріщин
  • подряпин
  • рельєфу поверхні
  • меж зерен

Світло падає на зразок під кутом, що підсилює видимість дефектів.

Корпус та конструкція

Корпус мікроскопа виконаний з литого під тиском алюмінію, що забезпечує:

  • високу міцність і надійність
  • механічну стабільність
  • зниження вібрацій
  • термічну стабільність при роботі з освітленням

Система освітлення та фільтр

Мікроскоп оснащений сучасною системою освітлення X-LED8 з білим світлодіодом потужністю 8 Вт

Основні характеристики освітлення

  • регулювання яскравості
  • колірна температура близько 6300 K
  • природна передача кольору
  • підвищення різкості зображення

Освітлення оптимізоване для роботи з цифровими камерами та забезпечує високу якість зображення навіть при великих збільшеннях.

Оптичні елементи та налаштування

Всі моделі оснащені:

  • польовою діафрагмою
  • апертурною діафрагмою
  • поляризатором
  • аналізатором

Це дозволяє налаштовувати освітлення за Келером.

Об’єктиви та оптика

Мікроскоп оснащений планахроматичними об’єктивами, скоригованими на нескінченність, з полем зору 22 мм та протигрибковим покриттям:

  • IOS W-PLAN MET 5×/0.12
  • IOS W-PLAN MET 10×/0.25
  • IOS W-PLAN MET 20×/0.40
  • IOS W-PLAN MET 50×/0.75

Розшифровка маркування об’єктивів

  • IOS — об’єктиви, скориговані на нескінченність
  • W — велика робоча відстань
  • PLAN — рівномірна різкість по всьому полю
  • MET — для металографії
  • 5×/0.12 — збільшення та числова апертура

Числова апертура

Впливає на:

  • роздільну здатність
  • контраст
  • глибину різкості

Парфокальна відстань 45 мм забезпечує збереження фокусу при зміні об’єктивів.

Окуляри та насадка

  • широкопольні окуляри PL 10×/22 мм
  • регулювання діоптрій на обох окулярах
  • міжзінична відстань: 50–75 мм

Опційно PL10×/24 мм доступні окуляри з мікрометричною шкалою.

Тринокулярна насадка

Нахил 30° та окремий вихід для підключення:

  • фотоапаратів
  • відеокамер

Збільшення мікроскопа

Стандартні збільшення

  • 50×
  • 100×
  • 200×
  • 500×

Принцип розрахунку

(Розрахунок збільшення мікроскопу: збільшення об’єктива × збільшення окуляру. Наприклад: збільшення об’єктиву 10× та збільшення окуляру 10× тоді загальне збільшення мікроскопу складає100×.

Предметний столик

Двошаровий механічний столик:

  • розмір: 233 × 147 мм
  • переміщення: 78 × 54 мм
  • металева вставка для зразка

Предметний столик

  • коаксіальне грубе та точне фокусування
  • обмежувач ходу для захисту зразка
  • регульований натяг

Точність: 0,002 мм
Максимальна висота зразка: 33 мм

Фільтри

Мікроскоп оснащений набором фільтрів:

  • світло блакитний - перетворює колірну температуру джерела світла на денну,
  • зелений - підвищує контрастність у чорно-білій фотографії,
  • жовтий - контрастний фільтр для спостереження за напівпровідниковими пластинами та напівпровідниками,
  • матовий білий - зменшує нерівномірність освітлення, створюючи однорідне поле зору,

Додатково оснащений:

  • поляризатором
  • аналізатором

Живлення

  • 100–240 В
  • 50–60 Гц
  • максимальна потужність: 13 Вт
Параметр Значення
Конструкція Прямий
Методи дослідження і контрастування Світле поле у відбитому світлі,
поляризація
Насадка Тринокуляр, нахил 30°
Збільшення (стандартний комплект) 50×; 100×; 200×; 500×
Окуляри PL 10×/22 мм з діоптрійним регулюванням на одному окулярі;
Опційно:PL10×/22 мм з мікрометричною шкалою
Об'єктиви Планахроматичні об'єктиви скориговані на нескінченність для світлого поля з полем зору 22 мм з антигрибковою обробкою
  • IOS W-PLAN MET 5×/0.12;
  • IOS W-PLAN MET 10×/0.25;
  • IOS W-PLAN MET 20×/0.40;
  • IOS W-PLAN MET 50×/0.75;
Різьба для встановлення об’єктива RMS
Парфокальна відстань 45 мм
Револьверний пристрій Механічний 5-ти позиційний з обертанням на 360°
Фокусування Коаксіальний механізм грубого та точного фокусування з обмежувачем ходу по висоті 40 мм
Максимальна висота зразка 33 мм
Освітлення Система освітлення X-LED8 потужністю 8 Вт
Фільтри Синій, зелений, жовтий, матовий білий, поляризатор, аналізатор
Предметний столик Двошаровий столик розміром 233×147 мм з покриттям проти подряпин
діапазон переміщення по координатних осях – 78×54мм
точність шкали ноніуса 0,1 мм
Засоби для роботи із зображеннями Опційно:
Адаптери для фотокамер, адаптер для C - MOUNT відеокамер
Електроживлення 100/240 В, 50/60Гц
Максимальна потужність 13 Вт
Габаритні розміри ДхШхВ 505×270×550 мм
Вага 12,3 кг
Аксесуари Пилозахисний чохол, інструмент для регулювання натягу, шестигранний ключ, цифрова інструкція

З 2011 року «УКРІНТЕХ» успішно працює і розвивається в області контролю якості матеріалів та промислових виробів.

Контакти

ТОВ «ТД «УКРІНТЕХ»:
61036, м.Харків, вул.Ковтуна,
буд.50, корпус літ "А-5"

Електронна пошта:
Ця електронна адреса захищена від спам-ботів. Вам потрібно увімкнути JavaScript, щоб побачити її.

Телефон:
+38 (050) 499-09-89; +38 (067) 346-65-76
+38 (067) 560-89-39

Випробувальна лабораторія:
+38 (050) 499-09-04
Ця електронна адреса захищена від спам-ботів. Вам потрібно увімкнути JavaScript, щоб побачити її.

Компанія

Постачання
випробувального обладнання, устаткування для металографії, приладів НК та ін.

Сервісний центр
Ремонт, сервісне обслуговування і модернізація обладнання.

Випробувальна лабораторія

Свідоцтво про уповноваження №05757883-0052, чинне
до 08.12.2025р.