Основные особенности
Предназначен для рутинной сортировки нержавеющих сталей и цветных сплавов. Способен на сортировку Al-сплавов по легирующим элементам от титана и выше.
X-50 оснащен диодной технологией PiN, которая является детектором предыдущего поколения до появления кремниевых дрейфовых детекторов (SDD-детекторов).
PiN-детектор имеет скорость обработки рентгеновского излучения в 10-20 раз ниже, чем у кремниевых дрейфовых детекторов, и имеет меньшее разделение примерно на 70 эВ (ширина больше). Тем не менее, для многих приложений, таких как базовая сортировка нержавеющих, жаропрочных и медных сплавов или для анализа неблагородных или тяжелых металлов в почвах, рудах, порошках и др., технология PiN удовлетворительна.
X - 50 не измеряет Mg, Al или Si, в некоторых материалах может измерять P и S на уровне 1%. Пределы обнаружения будут в 5 раз выше, по сравнению с версиями SDD X.
Однако X-50 имеет привлекательную цену. Он включает ту же современную рентгеновскую трубку, что и другие X-модели (работающие при макс 40 кВ), встроенную камеру, видео и платформу Android.
X - 50 применяется для сплавов, окружающей среды, добычи полезных ископаемых, промышленных и пользовательских приложений.
Анализаторы могут быть откалиброваны на заводе по стандартным параметрам; комптоновская нормализация (EPA Method 6200) или пользовательские калибровки, которые настраиваются.
Основные технические характеристики
Параметр | Значение |
---|---|
Детектор | 7 мм2 Si – PINстандартный DPP, 15k cps, более 50% измерений в режиме реального времени |
Рентгеновская трубка | 40 кВ, анод Rh или анод 40 кВ Au (геохим, почва и др.) |
Фильтры | 6-позиционное фильтрующее колесо для оптимизации луча |
Импульсный процессор | 14-разрядный АЦП с частотой оцифровки 80 MSPS, 8000 каналов MCA USB 2.0 для высокоскоростной передачи данных на главный процессор, Цифровая фильтрация, реализуемая в FPGA для высокопроизводительной импульсной обработки 50nS - 24uS пиковое время. |
Проверка калибровки | Внутренний затвор из нержавеющей стали 316 для полностью автоматизированной калибровки и проверки уровня мощности эмиссии. |
Главный процессор | ARM Cortex – A9 с двухъядерным процессором / 1,2 ГГц. Память: 1 Гб оперативной памяти DDR2, 1 Гб памяти NAND. Хранение: 8 Гб SD |
Питание | Встроенная литий-ионная батарея, перезаряжаемая внутри устройства или с помощью внешнего зарядного устройства, питание от сети переменного тока, возможность горячей замены (макс. время замены 60 с). |
Габаритные размеры | 7,25×10.5×4.5” (18,41×26,67×11,43 см) |
дисплей | 5-дюймовый цветной сенсорный экран, тип видеопроцессора – PowerVR SGX540 с аппаратной поддержкой 3D-графики. |
Внешний доступ/передача данных | Wi-Fi, Bluetooth, USB. Возможность подключения к большинству устройств, включая программное обеспечение SciAps ProfileBuilder для ПК. |
Рабочая температура | От 10°F до 130°F (от -12,5°С до +54,4°С) при 25% рабочем цикле |
Вес | 1,5 кг |
Безопасность | Защита паролем (пользовательский уровень) и внутренние настройки (admin) |
Стандартный пакет элементов для X-50 приведен в таблице ниже.
Есть возможность добавлять или заменять элементы для определенных программ (опционально по запросу).
Параметр | Значение |
---|---|
Приложение | Луч 1 (40 kV) |
Geo-Mining (Геохим горные породы) | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, U, Ag , Sn, Sb |
Geo-Env Soil (Геохим грунт) | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, Bi, Ag, Cd, Sn, Sb |
Alloy (Сплавы) | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag , CD, Sn, Sb |
Precious Metals (Драгоценные металлы) | Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd , In, Sn, Sb |
Производитель: SciAps, Inc, США