Профилометр Diavite Compact II

Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности Diavite Compact II предназначен для бесконтактного и контактного измерения параметров шероховатости, волнистости, микротопографии, контура и поверхностных дефектов плоских и криволинейных поверхностей.

В приборе Diavite Compact II реализованы методы контактного ощупывания измеряемой поверхности с помощью жесткого щупа и преобразования, возникающих при этом механических колебаний щупа в электрические сигналы, обрабатываемые с помощью компьютера с программным обеспечением, а так же бесконтактного оптического сканирования поверхности, с помощью хроматического конфокального оптического датчика.

Прибор состоит из следующих элементов: измерительного первичного преобразователя, блока подачи, вторичного измерительного прибора, принтера и блока питания.

В зависимости от комплектации, прибор позволяет реализовать: контактный и бесконтактный метод измерений.

Для расширения области использования модульная конструкция прибора позволяет подключать к нему различные дополнительные компоненты, дополнительные модули программного обеспечения с различными типами датчиков.

Датчики различаются по методу измерений, геометрическими размерами щупа, материалом изготовления, размером корпуса, положением и формой опоры.

Основные особенности

  • Измерительно-индикаторный блок с графическим дисплеем и четырьмя функциональными клавишами
  • Узел подачи VН (с опорным щупом) или узел подачи VНF (без опорного щупа)
  • Пример применения VН: для измерения шероховатости гладких наружных или внутренних поверхностей (включая конусы) и многое другое.
  • Пример применения VНF: для измерения шероховатости в пазах, вырезах, смешенных внутрь поверхностях, на боковых поверхностях резьбы, зубьев и многое другое.
  • Измерение профиля во время измерения
  • 3 измеряемых значения на дисплее, можно свободно конфигурировать (напр. Ra, Rz, Rmax)
  • Свободный выбор отрезка исследования
  • Память на 15 профилей измерения
  • Автоматическая калибровка
  • Соединения: USB – интерфейс
  • Передача данных на ПК для дальнейшей обработки в дополнительном программном обеспечении DIASOF
  • Электропитание: блок питания, набор литиевых аккумуляторов для мобильного применения
Параметр Значение
Стандарты ISO / DIN, JIS, ISO 12085 (CNOMO)
Измеряемые параметры согласно DIN/ISO Ra, Rz (DIN) R3z, Rmакс, Rt, Rq (RMS), Rk, Rpk, Rvk, MR1, MR2, Rpc, доля несущей поверхности Rmr
Измеряемые величины согласно JIS Ra, Rz
Измеряемые параметры согласно ISO 12085 R, Ar, Rx
Профильный фильтр Фильтр Гаусса согласно DIN EN ISO 11562
Участок измерения Lm, мм 1,25 /4/ 12,5
Отрезок исследования щупом Lt выбирается свободно, мм от 0,5 до 15
Длина предельно допустимых частот – Cutoff Lc, мм fix 0,25 / 0,8 / 2,5
Диапазон измерений/Величина шага между цифрами Ra/Rq, µмкм
Другие параметры, µмкм
0-35 / 0,01 (Werte < 0,1 мкм: 0, 001) 0-350 / 0,1
Скорость движения щупа, мм/с 0,5
Единицы измерения мм/дюйм
Алмазная зондирующая головка Радиус 5µм/90º

С 2011 года научно-производственное предприятие «УКРИНТЕХ» успешно работает и развивается в области контроля качества материалов и изделий.

Контакты

ООО НПП "Укринтех":
г. Харьков, пр-т. Гагарина 20, оф. 2319

Для почты:
а/я 2304, Харьков-1, 61001, Украина

Со стационарных:
+38 (057) 768-09-02

С мобильных:
+38 (050) 499-09-89; +38 (073) 022-36-96
+38 (098) 262-48-92

Компания

Производство и поставка
испытательного оборудования, оборудования для металлографии, приборов НК и др.

Сервисный центр
Ремонт, сервисное обслуживание и модернизация оборудования.

Центр независимых исследований
Аккредитованная испытательная лаборатория.